产品说明、技术参数及配置 edx 4500h x荧光光谱仪是利用xrf检测原理实现对各种元素成份进行快速、准确、无损分析。 该仪器的主要特征是利用智能真空系统，可对si、p、s、al、mg等轻元素具有良好的激发效果，利用xrf技术可对高含量的cr、ni、mo等重点关注的元素进行精确分析，在冶炼过程控制中起到了测试时间短，大大提高了检测效率和工作效率的作用。 另外，在合金分析、全元素分析、有害元素检测应用上也十分广泛。 性能特点 高效超薄窗x光管，指标达到国际水平 新的数字多道技术，让测试更快，计数率达到100000cps，精度更高。在合金检测中效果更好 sdd硅漂移探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比 低能x射线激发待测元素，对si、p等轻元素激发效果好 智能抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的范围 自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性 高信噪比的电子线路单元 针对不同样品自动切换准直器和滤光片，免去手工操作带来的繁琐 解谱技术使谱峰分解，使被测元素的测试结果具有相等的分析精度 多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制 内置高清晰摄像头 液晶屏显示让仪器的重要参数（管压、管流、真空度）一目了然 技术参数 产品型号：edx 4500h 产品名称：x荧光光谱仪 测量元素范围：从钠（na）到铀（u） 元素含量分析范围： ppm—99.99%（不同元素，分析范围不同） 同时分析元素：一次性可测几十种元素 测量时间：30秒-200秒 探测器能量分辨率为：145±5ev 管压：5kv-50kv 管流：50μa-1000μa 测量对象状态：粉末、固体、液体 输入电压：ac 110v/220v 环境温度：15℃-30℃ 环境湿度：35%-70% 样品腔体积：320mm×100mm 外形尺寸：660mm×510mm×350mm 重量：65kg 标准配置 高效超薄窗x光管 sdd硅漂移探测器 数字多道技术 光路增强系统 高信噪比电子线路单元 内置高清晰摄像头 自动切换型准直器和滤光片 自动稳谱装置 三重安全保护模式 可靠的整体钢架结构 90mm×70mm的状态显示液晶屏 真空泵 应用领域 合金检测、全元素分析、有害元素检测（rohs、卤素）